12/25/2025，在光子集成电路（PIC）的测试过程中，传统方法面临设备分散、流程不连贯的技术挑战。Santec 基于功能模块化设计理念，构建了一套完整的测试系统，实现从基础表征到故障分析的全流程覆盖。
系统架构与核心组件
该系统由五个专业模块组成，通过光开关矩阵实现灵活配置
① 可调谐激光源 TSL-570
• 波长范围：1240-1680nm（可扩展）
• 扫描分辨率：0.1pm@200nm/s
• 输出功率：最高+25dBm
• 应用：提供稳定的扫频光源，支持IL、WDL等基础参数测量
② 偏振控制与分析模块 PSY-201
• 功能：完整的偏振态（SOP）生成与分析
• 特性：支持预设偏振态、偏振轨迹模拟
• 应用：PDL测量、偏振相关特性分析
③ 回损测量单元 RLM-100
• 测量范围：30-85dB（单模）
• 测量速度：Fast模式<1.5s/波长
• 特性：内置自校准功能
• 应用：反射特性量化分析
④ 光学故障诊断仪 SPA-110
• 技术：光学频域反射（OFDR）
• 空间分辨率：5μm（C/L波段）
• 测量距离：5-30m
• 应用：波导缺陷定位、耦合界面分析
⑤ 光路切换与探测系统
• OSX-100光开关矩阵
• 1×2 + 1×32配置
• 插损<0.5dB
• 串扰<-80dB
⑥ 高效探测器：球形探测器功率计 OPM-200
• 波长范围 840–1700nm
• 功率测量覆盖 - 80dBm 至 30dBm
• 平均响应时间仅 50μs
• 支持高速数据记录（每探测器 128,000 采样点）
• 精准适配自动化测试和对准环节，不拖慢流程
测试流程设计
第一阶段｜多参数同步测量
TSL-570 执行波长扫描，PSY-201 调控入射偏振态，OSX-100 矩阵完成多通道切换，OPM-200 同步采集传输功率，最终输出 IL 谱线、WDL、PDL 及偏振敏感性等参数。
第二阶段｜反射特性分析
通过 1×2 光开关切换至 RLM-100 路径，可快速获取器件反射谱，精准识别界面反射、模式失配等问题。
第三阶段｜故障精确定位
切换至 SPA-110 测量路径，基于OFDR 技术获取空间域反射特征，精确定位波导缺陷、耦合损耗等问题位置。
本方案通过高度集成的单一平台，实现了扫频、偏振、回损及故障定位等核心测试功能，兼具高波长分辨率与低插损的光路设计，在保证测量精度的同时，具备灵活的通道与功能扩展能力，并通过标准SCPI指令集支持系统集成，为PIC研发与量产提供了高效、一致且可靠的测试平台。
